Данная книга представляет собой первую попытку собрать воедино имеющуюся обширную информацию, относящуюся к вопросам изучения надежности полупроводниковых приборов. Авторы статей принадлежат к инженерному персоналу главных фирм, изготовляющих и применяющих полупроводниковые приборы. В это сборник вошла значительная часть информации, имеющейся в настоящее время, причем материал изложен скорее с практической и эмпирической точек зрения, чем с теоретической.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже