Содержание:
1. Общие положения;
2. Зависимость величины предела обнаружения спектральной линии от параметров приемника излучения и способов регистрации спектров;
3. Связь величины предела обнаружения элемента с параметрами спектрального прибора;
4. Дуговые источники света для определения следов элементов;
5. Разряд в полном катоде, искра и другие источники света для определения следов элементов. Сравнительные характеристики различных источников;
6. Методы концентрирования и их характеристики;
7. Концентрирование примесей в системе твердое вещество - газ;
8. Концентрирование примесей в системе твердое вещество - жидкость;
9. Концентрирование примесей в системе жидкость - газ;
10. Концентрирование примесей в системе жидкость - жидкость;
11. Концентрирование примесей в системе твердое жидкость (раствор) - твердое вещество;
12. Электрохимические и хроматографические методы разделения веществ;
13. Оборудование лаборатории и организации работы по анализу чистых веществ. Анализ тонкого слоя пробы;
14. Эталоны для спектрального анализа чистых веществ;
15. Некоторые практические методы анализа чистых материалов.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже