Справочник содержит классифицированный набор типичных электронномикроскопических фотографий дислокаций и дефектов упаковки. Дифракционный контраст на микроскопических снимках сопоставляется с результатами теоретических расчетов. Приведены краткие сведения о методике расчета дифракционного контраста на основе динамической теории рассеяния электронов и с применением ЭЦВМ. Значительное внимание уделено новейшему методу представления результатов теоретических расчетов в виде так называемых "карт интенсивности" (теоретических электронномикроскопических фотографий), печатаемых вычислительной машиной.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже