В книге рассмотрены системы базирования и основные параметры шероховатости поверхности, а также даны описания образцовых мер, предназначенных для проверки оптических и щуповых приборов; изложены основы теории двухлучевой и многолучевой интерференции и принципы устройства современных двухлучевых микроинтерферометров, многолучевых интерферометров, приборов, построенных по методу светового сечения и теневой проекции профиля; описаны щуповые приборы – профилометры и профилографы.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже