Каталог: Наука, образование »•» Технологии и инженерия

	Батавин, В.В.; Концевой, Ю.А.; Федорович, Ю.В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур Серия: Измерения в электронике
	Издательство: М.: Радио и Связь
	Переплет: твердый; 264 страниц; 1985 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 01.03.2011

Аннотация

Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о контрольно-измерительных средствах лабораторного и промышленного применения и их характеристиках.
Тираж - 5.000

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать