Излагаются основные методы исследования структуры деформированных кристаллов, электронная микроскопия на отражение, количественная электронная микроскопия на просвет, ионная микроскопия, электронноэмиссионные методы и некоторые другие. Большое внимание уделено рентгеновским методам, в том числе методам, позволяющим определять плотность дислокаций, концентрацию дефектов упаковки и т.п. с применением ЭЦВМ.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже
