Каталог: Техника и технология »•» Связь, электроника

	ред. Маслов, А.А. Надежность полупроводниковых приборов
	Издательство: М.: Иностранной литературы
	Переплет: твердый; 428 страниц; 1963 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 01.07.2014

Аннотация

В книге собраны практические сведения и результаты по следующим, наиболее актуальным вопросам, связанным с надежностью полупроводниковых приборов:
1. Испытания транзисторов и диодов на срок службы, сопоставление результатов испытания на срок службы с результатами эксплуатации их в полевых условиях.
2. Анализ отказов, критерии отказов, определение качественных показателей надежности и их связи с технологией производства и контролем качества продукции.
3. Виды оборудования, применяемого для испытаний транзисторов на срок службы.
4. Методы ускоренных испытаний транзисторов и диодов, прогнозирование надежности.
5. Теория надежности.
6. Роль технических условий и методов стандартизации испытаний.

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать