В книге английских ученых излагаются физические основы более двадцати современных методов исследования поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д.). Дается сравнение и сопоставление методов друг с другом в зависимости от исследуемой проблемы физики поверхности.
Для студентов и аспирантов физических, химических и материаловедческих специальностей, и также для широкого круга исследователей в области физики поверхности.
Оглавление: Предисловие редактора перевода [5]
Предисловие [7]
Сокращения [9]
Глава 1. ВВЕДЕНИЕ [11]
1.1. Почему поверхность? [11]
1.2. Сверхвысокий вакуум, загрязнения и очистка [14]
1.3. Адсорбция на поверхности [20]
1.4. Аналитические методы исследования поверхности [23]
Глава 2. КРИСТАЛЛОГРАФИЯ ПОВЕРХНОСТИ И ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ [27]
2.1. Симметрия поверхности [27]
2.2. Описание структур верхних слоев [34]
2.3. Обратная решетка и дифракция электронов [37]
2.4. Дифракция электронов; качественное рассмотрение [42]
2.5. Домены, ступеньки и дефекты [45]
2.6. Определение структуры поверхности с помощью ДМЭ [65]
2.6.1. Общее рассмотрение и недостатки методов однократного рассеяния и фурье-преобразования [65]
2.6.2. Основные теории многократного рассеяния [77]
2.6.3. Применение расчетов многократного рассеяния [85]
2.7. Тепловые эффекты [92]
2.8. Дифракция отраженных быстрых электронов (ДОБЭ) [95]
Глава 3. МЕТОДЫ ЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [101]
3.1. Общие замечания [101]
3.1.1. Введение [101]
3.1.2. Неупругое рассеяние электронов и поверхностная чувствительность [102]
3.1.3. Электронные спектрометры [108]
3.1.4. Распределение электронов по энергии в методах электронной спектроскопии [122]
3.1.5. Методы электронной спектроскопии: спектроскопия остовных уровней атомов [126]
3.2. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) [127]
3.2.1. Введение [127]
3.2.2. Источники фотонов [128]
3.2.3. Форма и сдвиги фотоэлектронных пиков [131]
3.2.4. РФЭС - спектроскопия остовных уровней [141]
3.2.5. Использование синхротронного излучения [149]
3.2.6. Структурные эффекты в РФЭС [153]
3.3. Электронная оже-спектроскопия (ЭОС) [164]
3.3.1. Введение: основные процессы [164]
3.3.2. Энергетические уровни, сдвиги и форма пиков [166]
3.3.3. ЭОС как метод анализа состава поверхности [179]
3.3.4. ЭОС и РФЭС - некоторые сопоставления [193]
3.4. Пороговые методы [195]
3.4.1. Спектроскопия потенциала появления (СПП) [195]
3.4.2. Спектроскопия ионизационных потерь (СИП) [204]
3.4.3. Структурные эффекты в пороговых методах [207]
3.5. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия (УФЭС) [212]
3.5.1. Введение [212]
3.5.2. Использование УФЭС для изучения зонной структуры [214]
3.5.3. Применение УФЭС для изучения адсорбированных молекул [233]
Глава 4. МЕТОДЫ ИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [251]
4.1. Введение [251]
4.2. Обмен зарядом между ионами и поверхностью [253]
4.2.1. Ионно-нейтрализационная спектр........................ ...
Дополнительно: ОБЯЗАТЕЛЬНО ПРОЧТИТЕ ПЕРЕД ЗАКАЗОМ!
Уважаемые покупатели! Думаю, до конца декабря возможны проблемы с поиском заказанных книг. Склад переезжает на новый адрес, и как следствие образовался "бардак", с которым очень сложно и трудоемко бороться. Приношу Вам свои извинения, и надеюсь на Ваше понимание.
С уважением, Геннадий.
Оплата наличными или на карту при встрече. ПОСТОЯННОЕ МЕСТО ВСТРЕЧ У... [подробнее]
)
отличное;
В продаже с 22.08.2024
