Каталог: Наука, образование »•» Технологии и инженерия

	Ягудин, Г.Х.; Щепетов, Е.П.; Петрова, Г.С. и др. Методы контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой Серия: Обзоры по электронной технике. Микроэлектроника
	Издательство: М.: ЦНИИ "Электроника"
	Переплет: мягкий; 52 страниц; 1981 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 28.10.2015

Аннотация

Дан анализ методов контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой (ЗУПВ) по материалам отечественной и зарубежной печати.
Рассмотрены виды испытаний полупроводниковых ЗУПВ, вопросы построения испытательных тестов для функциональных испытаний полупроводниковых ЗУПВ, перспективы решения проблемы испытаний БИС ЗУ.
Приведены данные о зарубежной испытательной аппаратуре, предназначенной для контроля полупроводниковых ЗУПВ.

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать