Каталог: Техника и технология »•» Связь, электроника

	Раков, А.В. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур
	Издательство: М.: Советское радио
	Переплет: мягкий; 176 страниц; 1975 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 13.01.2017

Аннотация

Книга посвящена детальному анализу известных спектро-фотометрических методов, позволяющих определять дисперсию оптических констатнт тонких пленок на различных полупроводниковых подложках, исследовать особенности строения тонкопленочных полупроводниковых структур, измерять концентрацию, подвижность и эффективную массу носителей заряда в полупроводниковых слоях, изучать изменения в зонной структуре полупроводниковых слоев при фазовых переходах полупроводник-металл, исследовать явления на границе раздела фаз в тонкопленочных полупроводниковых структурах. Рассматриваются основные характеристики современных спектральных приборов и описываются практические приемы учета искажений, вносимых ими при регистрации спектров.

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать