Впервые рассмотрен вопрос о создании методологии комплексного решения задач, составляющих проблему надежности изделий квантовой электроники. Основной для решения является стохастическая деградационная параметрическая модель (СДПМ) работоспособности, характеризующая статистическую зависимость выходных параметров исследуемого изделия от параметров комплектующих элементов , режимов и условий работы.....
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже
