В пособии изложена теория основных методов исследования(оптические,рентге нодифракционные,электроннограф ические)структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов и эпитаксильных пленок и устройств на их основе,а также металлических материлов.Рассмотрены области .применения указанных методов исследования.