Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем. Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, причины построения средств измерения и контроля.
Дополнительно: Уважаемые покупатели на выкуп заказа отводиться семь дней с момента подтверждения наличия книги, по истечении данного срока заказ анулируется. При заказах на сумму более 5000 р. возможен прием оплаты от организаций по безналичному расчету.