Руководство написано известными американскими специалистами в области электронно-зондовых методик и посвящено растровой электронной микроскопии (РЭМ) и рентгеновскому микроанализу (РМА). В книге I изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа, Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Во II томе изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника подготовки различных объектов для последующего их исследования РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов. Предназначено для физиков, химиков, материаловедов, геологов, биологов, преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов вузов соответствующих профилей. Перевод с английского.
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.
)
отличное;
В продаже с 08.09.2019
