наша кнопка
|
Техника и технология »•» Связь, электроника
Только: серийные издания
 50 руб
| Абрайтис, В.-Б.Б.; Седаускас, С.Ю.; Пятраускас, А.-В.В. |
| Микропроцессорный комплект БИС высокого быстродействия К1800 |
Серия: Массовая библиотека инженера "Электроника"
1986 г.; Изд-во: М.: Радио и связь
|
| Рассмотрены конструктивно-технологические, схемотехнические и структурные особенности микропроцессорного комплекта быстродействующих больших интегральных схем (БИС) серии К1800 на эмиттерно-связанной логике. Описан принцип работы, выполняемые функции, ... |
 50 руб
| Шабанов, А.А.; Хамидуллин, Р.Р. |
| Контактные устройства для контроля изделий микроэлектроники |
Серия: Библиотека конструктора РЭА
1985 г.; Изд-во: М.: Радио и связь
|
| Рассмотрены особенности проектирования и производства контактных устройств для контроля изделий микроэлектроники. Изложены предъявляемые к ним основные требования, классификация, методы конструирования и расчета с учетом технологии их изготовления. Опи... |
50 руб
100 руб
50 руб
| Мухитдинов, М.; Мусаев, Э. |
| Светоизлучающие диоды и их применение |
Серия: Массовая библиотека инженера электроника
1988 г.; Изд-во: М.: Радио и связь
|
| Даны основные эксплуатационные характеристики, методика расчета режимов питания и выбора вариантов включения светоизлучающих диодов. Рассмотрены устройства регулирования, усиления, контроля и коммутации с применением светоизлучающих диодов. Приведены п... |
75 руб
50 руб
75 руб
50 руб
50 руб
| Андрианов, К.А.; Скипетров, В.В. |
| Синтетические жидкие диэлектрики |
Серия: Полимеры в электроизоляционной технике
1962 г.; Изд-во: М.: Госэнергоиздат
|
| 4 выпуск серии |
50 руб
50 руб
| Литвинов, Ю.М.; Ольховикова, Т.И.; Хашимов, Ф.Р. |
| Том 3. Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах |
Серия: 6. Материалы. В 373 томах
1976 г.; Изд-во: М.: ЦНИИ "Электроника"
|
| Рассмотрены возможности применения оптической металлографии, рентгеновской дифракционной топографии и электронной микроскопии для контроля качества исходных полупроводниковых материалов и приборов. Показано, что в настоящее время основным методом промы... |
|
|
