Во втором издании на основе современных представлений о строении поверхности и межфазном взаимодействии в системе подложка - пленка дан анализ структурных и морфологических превращений в тонких пленках. Обсуждены структурные переходы на реальной поверхности, а также структурно-морфологические превращения на ранней стадии формирования тонкой пленки с учетом взаимодействия в ансамбле островков. Рассмотрены ориентационные и субструктурные превращения при росте пленок, общие закономерности сопряжения решеток при ориентированной кристаллизации пленок, а также процессы, инициированные миграцией границ.
Книга предназначена для научных работников и инженеров, специализирующихся в области физического металловедения, физики тонких пленок, электронной техники.
)
хорошее;
В продаже с 21.02.2023
