Изложены разнообразные методики аналитической электронной микроскопии, рассмотрена их связь с общими физическими принципами, даны рекомендации практического применения. Уделяется большое внимание перестройке обычного просвечивающего электронного микроскопа в аналитический. Приводится описание большого числа дополнительных устройств для проведения анализа, что свидетельствует о широком применении этого метода.
Для научных и инженерно-технических работников в области электронной микроскопии.
ОГЛАВЛЕНИЕ
Предисловие к русскому изданию
Предисловие
Глава 1. Ньюбури Д.Е. Взаимодействия электронного пучка с образцом в аналитическом электронном микроскопе (Перевод А.М. Глезера)
Глава 2. Каули Дж.М. Принципы формирования изображения (Перевод И.А. Русаковой)
Глава 3. Вильямс Д. Б., Гольдштейн Дж. И., Фиори К.Е. Основы рентгеновской энергодисперсионной спектроскопии в аналитическом электронном микроскопе (Перевод Т.Ю. Скаковой)
Глава 4. Гольдштейн Дж.И., Вильямс Д.Б., Клифф Г. Количественный рентгеновский анализ (Перевод Т.Ю. Скаковой)
Глава 5. Джой Д.К. Основные принципы спектроскопии энергетических потерь электронов (Перевод Т.Ю. Скаковой)
Глава 6. Джой Д.К. Количественный микроанализ с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (Перевод Т.Ю. Скаковой)
Глава 7. Майер Д.М. Элементный анализ с использованием возбуждения внутренних уровней: микроаналитическая методика для характеристики материала (Перевод Н.В. Никулиной)
Глава 8. Силкокс Дж. Анализ электронной структуры твердых тел (Перевод А.В. Суязова)
Глава 9. Спенс Дж.К.Х., Карпентер Р.В. Электронная микродифракция (Перевод А.В. Суязова)
Глава 10. Стидс Дж.В. Электронная дифракция в сходящемся пучке (Перевод А.В. Суязова)
Глава 11. Хамфри К.Дж. Формирование изображения кристаллов и дефектов в просвечивающем растровом электронном микроскопе (Перевод А.М. Глезера)
Глава 12. Исааксон М., Отсуки М., Утлоу М. Электронная микроскопия индивидуальных атомов (Перевод А.М. Глезера)
Глава 13. Синклер Р. Микроанализ по изображениям кристаллической решетки (Перевод И.А. Русаковой)
Глава 14. Грен Дж.Дж. Трудности при использовании аналитической электронной микроскопии; загрязнение и травление объектов (Перевод А.М. Глезера)
Глава 15. Хоббс Л.В. Радиационные эффекты, возникающие при анализе неорганических образцов в просвечивающем электронном микроскопе (Перевод А.М. Глезера)
Глава 16. Андерсон Р., Рамсей Дж.Н. Стратегия анализа (Перевод А.М. Глезера)
Предметный указатель
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.
)
отличное;
В продаже с 10.07.2022
