Каталог: Наука, образование »•» Физика, астрономия

	Фелдман, Л.; Майер, Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок
	Издательство: М.: Мир
	Переплет: твердый; 344 страниц; 1989 г.
	ISBN: 5-03-001017-3; Формат: увеличенный
	Язык: русский
	На сайте с 13.11.2011

Аннотация

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.

Формат - 150 х 215 мм

В продаже   Хочу купить

Продавец: wowik (Томск, RU/70 )   Состояние: отличное; В продаже с 14.02.2022 Условия доставки и оплаты Способы доставки: почтой по предоплате Способы оплаты: банковской картой Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно. При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно. За пределы РФ книги не высылаю Фото книг в состоянии "новое", "как новое" и "отличное" не высылаю. Встречи по договоренности исключаются.

Цена 870 руб

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать