Излагаются принципы решения наиболее трудной проблемы проектирования СБИС, связанной с необходимостью тестирования СБИС. Показывается, что прогресс в решении этой проблемы может быть достигнут благодаря разработке специальных методов проектирования контролепригодных и самотестируемых схем. Рассматриваются структурные методы обеспечения самотестируемости СБИС, когда на кристалле размещаются средства генерации тестов и сигнатурной оценки результатов, а также приводятся методы, алгоритмы и программы функционального самотестирования микропроцессорных устройств. Материал включает оригинальные исследования авторов, а также современные результаты, полученные отечественными и зарубежными специалистами.
Для научных работников, специализирующихся в области проектирования и эксплуатации средств вычислительной техники.
Дополнительно: Уважаемые покупатели на выкуп заказа отводиться семь дней с момента подтверждения наличия книги, по истечении данного срока заказ анулируется. При заказах на сумму более 5000 р. возможен прием оплаты от организаций по безналичному расчету.
)
как новое;
В продаже с 29.03.2024
