Рассмотрены показатели надежности запоминающих устройств (ЗУ) и их расчет, исследованы отказы ЗУ. Большое внимание уделено структурным и параметрическим методам повышения надежности ЗУ, оценке их эффективности и практической реализации. Рассмотрены методы и средства функционального контроля, диагностики и испытаний ЗУ.
Для инженерно-технических работников, связанных с созданием и эксплуатацией вычислительной техники, устройств автоматики, радиолокации, связи.
Дополнительно: Уважаемые покупатели на выкуп заказа отводиться семь дней с момента подтверждения наличия книги, по истечении данного срока заказ анулируется. При заказах на сумму более 5000 р. возможен прием оплаты от организаций по безналичному расчету.